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      微同軸屏蔽效能測(cè)試裝置

      ]資料
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      產(chǎn)品名稱(chēng): 微同軸屏蔽效能測(cè)試裝置
      產(chǎn)品型號(hào): HDS-18A
      產(chǎn)品展商: 華瑞高(horigol)
      產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔


      簡(jiǎn)單介紹
      微同軸屏蔽效能測(cè)試裝置HDS-18A適用于導(dǎo)電薄膜、薄型織物、金屬薄板、含導(dǎo)電涂覆層或鍍層的薄型電磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的測(cè)量,目前暫無(wú)標(biāo)準(zhǔn)與之對(duì)應(yīng),微同軸屏蔽效能測(cè)試裝置的測(cè)試原理同ASTM 4935-2010 規(guī)定的測(cè)試裝置。

      微同軸屏蔽效能測(cè)試裝置

      的詳細(xì)介紹

      HDS-18A微同軸屏蔽效能測(cè)試裝置是在ASTM 4935-2010標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上進(jìn)行改進(jìn)的微波頻段測(cè)試夾具,超精密加工的微同軸部件在測(cè)試頻率范圍內(nèi)具有很小的駐波比和插入損耗,有效保證測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性與準(zhǔn)確性,測(cè)試裝置核心夾具采用不銹鋼加工,中心微導(dǎo)體采用鍍金工藝處理,保證良好性能的同時(shí)具備美觀耐用性。

      技術(shù)參數(shù):

      1. 測(cè)試頻率范圍:1GHz~18GHz,(可在10MHz~18GHz內(nèi)使用)

      2. 醉大駐波比(VSWR):<1.2(1GHz~18GHz)

      3. 插入損耗:<1.5dB(1GHz~18GHz)

      4. 外形尺寸:260mm×160×200mm(H×W×D)

      5. 重量:2kg

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