靜電抗擾度測試的測試要求之測試目的
靜電放電可能引起電場磁場的變化，造成設備誤動作，也可能會通過能量交換引起半導體器件的損壞。因此本試驗旨在通過模擬操作人員或物體在接觸EUT時的放電來檢測產(chǎn)品的靜電放電抗擾度能力。
靜電抗擾度測試的測試要求之測試依據(jù)
1、用戶文檔
測試依據(jù)的用戶文檔主要有以下三個：《產(chǎn)品技術要求》和/或《需求映射表》 、《產(chǎn)品包需求》可測試性需求、《整體測試方案》
2、測試技術標準規(guī)范
GB/T18268.1-2010 測量、控制和實驗室用的電設備電磁兼容性要求第1部分：通用要求
GB17626.2-2006 電磁兼容 試驗和測量技術 靜電放電抗擾度試驗
GB/T4365-2003 電工術語 電磁兼容
靜電抗擾度測試的測試要求之評判標準
評判結果分為以下四類
1 在廠家或用戶規(guī)定的技術范圍內(nèi)性能正常。
2 功能或性能暫時降低，但在騷擾停止后EUT能自行恢復，無需操作者干預。
3 功能暫時喪失或性能暫時降低，但需操作者干預才能恢復正常。
4 因硬件或軟件損壞，或數(shù)據(jù)丟失而造成不能自行恢復至正常狀態(tài)的功能降低或喪失。
其中，1&2兩項為可接受結果，3&4兩項為不可接受結果。
