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      IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)

      ]資料
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      產(chǎn)品名稱: IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)
      產(chǎn)品型號: IEC61967-6
      產(chǎn)品展商: Langer
      產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔


      簡單介紹
      EC61967-6磁場探頭法是通過測試PCB板導線上的電流來評定集成電路的電磁發(fā)射所組成的IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)。IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)是芯片引腳通過PCB板上的導線與電源或外圍電路相連,因而它產(chǎn)生的射頻電流可用一個靠近的磁場探頭獲取,由電磁感應(yīng)定律,探頭輸出端的電壓正比于導線上的射頻電流。

      IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)

      的詳細介紹
      IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)特點:
      • IEC61967-6磁場探頭法是通過測試PCB板導線上的電流來評定集成電路的電磁發(fā)射。

      • 芯片引腳通過PCB板上的導線與電源或外圍電路相連,因而它產(chǎn)生的射頻電流可用一個靠近的磁場探頭獲取,由電磁感應(yīng)定律,探頭輸出端的電壓正比于導線上的射頻電流。

      IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)詳細說明:


      依據(jù)IEC 61967-6的IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)
      傳導發(fā)射測量方法——磁場探頭法 

      IEC61967-6磁場探頭法是通過測試PCB板導線上的電流來評定集成電路的電磁發(fā)射。芯片引腳通過PCB板上的導線與電源或外圍電路相連,因而它產(chǎn)生的射頻電流可用一個靠近的磁場探頭獲取,由電磁感應(yīng)定律,探頭輸出端的電壓正比于導線上的射頻電流。磁場探頭的結(jié)構(gòu)細節(jié)和推薦尺寸在標準中有詳細描述,測試示意圖如下所示:
       
      全套測試系統(tǒng),由以下幾個部分組成:
      1.EMI測試接收機,可選ESL3或者ESL6
      標準對頻譜儀或接收機的要求:
      ·頻率范圍覆蓋150kHz-1GHz
      ·峰值檢波、帶*大值保持功能
      ·分辨率帶寬的設(shè)置如下表:
      測量儀器
      頻段
      150kHz-30MHz
      30MHz-1GHz
      頻譜分析儀(3dB)
      10kHz
      100kHz
      接收機(6dB
      9kHz
      120kHz
      R&S® ESL EMI測試接收機,是一臺能依據(jù)*新標準進行電磁干擾測試的EMI接收機,同時也是一臺全功能的頻譜分析儀。
      ESL3 EMI測試接收機,完全符合IEC 61967-4標準要求,同時還能對設(shè)備級產(chǎn)品進行電磁兼容預測試。
      2.測試電路板
      對集成電路的EMC測試,被測IC需要安裝在一塊印制電路板上,為提高測試的方便性與重復性,標準規(guī)定了電路板的規(guī)格,標準電路板的大小與TEM小室頂端的開口大小匹配。
      GND22-04測試電路板,完全依據(jù)集成電路電磁兼容測試要求設(shè)計,由下列部件構(gòu)成:
      ·測試板
      ·GND平面GND22-04
      ·連接板CB 0706
      ·IC適配器
      ·控制單元
       
      3.Probe 1601H-場探頭以及Probe 1701E-場探頭
      IC H-場探頭Probe 1601
      Probe 1601,用于近場測量IC產(chǎn)生的磁場,具有50歐姆輸入,可連接磁場環(huán)(H-field loop),磁場環(huán)是可旋轉(zhuǎn)的,高度可調(diào)節(jié)。探頭的50歐姆輸出接口,可連接頻譜分析儀或者EMI測試接收機。
      IC E-場探頭1701
      近場測量通過IC的電場。用探頭測量到的電壓是對IC發(fā)射的測量,它被電場(E-場)激勵。
      探頭的RF電壓參數(shù)是帶有集成前置放大器,輸入電阻為1.5 kΩ。輸入連接到一個25 x 25 mm 的測量電極收集電場信號。耦合面高度可調(diào)可轉(zhuǎn)換。

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