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      IC脈沖群抗擾度測試系統(tǒng)

      ]資料
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      產(chǎn)品名稱: IC脈沖群抗擾度測試系統(tǒng)
      產(chǎn)品型號: HS62215
      產(chǎn)品展商: Langer
      產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔


      簡單介紹
      IC脈沖群抗擾度測試系統(tǒng)是根據(jù)集成電路電磁兼容的測試標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的測試系統(tǒng),IC脈沖群抗擾度測試系統(tǒng)主要有電磁發(fā)射測試標(biāo)準(zhǔn)IEC 61967(用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發(fā)射測試)、電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC 62132(用于頻率為150kHz到1GHz的集成電路射頻抗擾度測試)以及脈沖抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC 62215。

      IC脈沖群抗擾度測試系統(tǒng)

      的詳細(xì)介紹


      本系統(tǒng)用于依據(jù)IEC 62215第三部分,測量集成電路對脈沖群信號的敏感度,系統(tǒng)由脈沖群信號發(fā)生器、注入探頭和IC測試板等三部分組成:

      集成電路電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn),主要有電磁發(fā)射測試標(biāo)準(zhǔn)IEC 61967(用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發(fā)射測試)、電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC 62132(用于頻率為150kHz到1GHz的集成電路射頻抗擾度測試)以及脈沖抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC 62215。其中,IEC 62215標(biāo)準(zhǔn),包括以下三部分:
      Part 1:通用條件和定義;
      Part 2:傳導(dǎo)抗擾度測量方法——同步脈沖注入法 ;
      Part 3:傳導(dǎo)抗擾度測量方法——隨機(jī)脈沖注入法參考(IEC61000-4-2和IEC61000-4-4) 。

      本系統(tǒng)用于依據(jù)IEC 62215第三部分,測量集成電路對脈沖群信號的敏感度,測試方法為:由脈沖群信號發(fā)生器產(chǎn)生脈沖信號,使用脈沖群注入探頭,向集成電路的電源引腳或者信號引腳注入脈沖群信號,檢查集成電路的抗干擾性能。

      典型配置:

      序號
      型號
      說明
      數(shù)量
      1.1
      BPS 201
      脈沖群信號發(fā)生器
      1
      1.2
      Probe 201
      脈沖群電流注入探頭,電壓范圍5-35V
      1
      1.3
      Probe 211
      脈沖群電流注入探頭,電壓范圍0.5-5V
      1
      1.4
      Probe 301
      脈沖群電壓注入探頭,電壓范圍140-500V
      1
      1.5
      Probe 311
      脈沖群電壓注入探頭,電壓范圍5-140V
      1
      1.6
      GND 22
      針對不同尺寸集成電路適配器的接地平面
      1
      1.7
      CB 01
      連接板
      1
      1.8
      CU 10
      控制單元,控制電平的高(H)和低(L)
      1
      1.9
      OA 4005
      4通道示波器適配器
      1
      1.10
      Accessories
      電纜等附件
      1

      一、BPS201脈沖群信號發(fā)生器
      主要技術(shù)指標(biāo):
      脈沖群信號重復(fù)頻率:0.1 Hz - 20 kHz
      脈沖群電壓:取決于所連接的注入探頭
      極性:正、負(fù)或者交替

      二、注入探頭
      注入探頭,把BPS201產(chǎn)生的信號進(jìn)行放大后,注入到集成電路的引腳上。
      可選4個(gè)脈沖群注入探頭,分別為:

      探頭
      Probe 201
      Probe 211
      Probe 301
      Probe 301
      脈沖電壓
      5-35V
      0.5V-5V
      140V-500V
      5V-140V
      脈沖形狀
      1.5/5ns
      1.5/5ns
      1.5/20ns
      1.5/20ns
      耦合電容
      1.2μF
      1.2μF
      18pF
      18pF
      內(nèi)部電阻/電感
      約1?/2nH
      約1?/2nH
      約100?/50nH
      約100?/50nH
      典型應(yīng)用
      連到低阻抗結(jié)構(gòu)的IC引腳,包括Vdd, Vss,信號引腳
      連到高阻抗結(jié)構(gòu)的IC引腳,包括信號引腳

      三、IC測試板,包括接地平面及IC適配器等
      IC測試板,由接地平面、IC適配器、連接板等組成:
      · 接地平面:大塊連續(xù)鍍金的地平面是電磁兼容測試中確保EUT(芯片)和探頭保持良好連接的先決條件。
      · IC適配器:連接EUT的小電路板。它插在地平面上并包含必需的濾波器。在測試期間它確保可靠的地平面并限制EUT的電源。
      · 連接板:連接電路板,在芯片適配器和外部連接器之間。它控制LED的顯示。

      其中,接地平面GND,可選:
      GND20-01:針對集成電路適配器(22.7 x 22.7mm)的接地平面
      GND20-02:針對集成電路適配器(32.7 x 32.7mm)的接地平面
      GND20-03:針對集成電路適配器(68.1 x 22.7mm)的接地平面
      GND22-04:針對集成電路適配器(100 x 100 mm)的接地平面(符合IEC61967-2標(biāo)準(zhǔn))
      IC適配器卡,用于放置被測IC,濾波器以及連接線。對于一個(gè)IC的測試,可能需要具有不同濾波參數(shù)的多個(gè)適配器卡。用于電源的濾波器,一般放在連接板上。
      IC適配器卡可以由LANGER公司提供,客戶也可以在LANGER公司的協(xié)助下自己做IC適配器卡。

      四、測試附件
      ·CU10控制單元
      ·OA 4005:四通道示波適配器
      ·TH 21探頭支架


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