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IC EMC測試設備
更詳細的產(chǎn)品分類
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產(chǎn)品名稱/型號
產(chǎn)品簡單介紹
IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)
IEC61967-6
EC61967-6磁場探頭法是通過測試PCB板導線上的電流來評定集成電路的電磁發(fā)射所組成的IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)。IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)是芯片引腳通過PCB板上的導線與電源或外圍電路相連，因而它產(chǎn)生的射頻電流可用一個靠近的磁場探頭獲取，由電磁感應定律，探頭輸出端的電壓正比于導線上的射頻電流。
IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)
TEM小室法
依據(jù)IEC 61967-2的IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)-TEM小室法其實就是一個變型的同軸線，由一塊扁平的芯板作為內(nèi)導體，外導體為方形，兩端呈錐形向通用的同軸器件過渡，一頭連接同軸線到測試接收機，另一頭連接匹配負載。IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)中的小室的外導體頂端有一個方形開口用于安裝測試電路板。
IC測試板
HS61967-1
依據(jù)IEC 61967-1 IC測試板，由接地平面、IC適配器、連接板等組成。 集成電路電磁兼容測試標準，目前出版的有集成電路電磁發(fā)射測試標準IEC61967和集成電路電磁抗擾度標準IEC62132以及IEC 62215。
IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)
1Ω/150Ω直接耦合法
依據(jù)IEC 61967-4的IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)-1Ω/150Ω直接耦合法是根據(jù)集成電路電磁兼容測試標準，目前出版的有集成電路電磁發(fā)射測試標準IEC61967和集成電路電磁抗擾度標準IEC62132 。依據(jù)IEC 61967-4的IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)-1Ω/150Ω直接耦合法，用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發(fā)射測試。
IC脈沖群抗擾度測試系統(tǒng)
HS62215
IC脈沖群抗擾度測試系統(tǒng)是根據(jù)集成電路電磁兼容的測試標準設計的測試系統(tǒng)，IC脈沖群抗擾度測試系統(tǒng)主要有電磁發(fā)射測試標準IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發(fā)射測試）、電磁抗擾度標準IEC 62132（用于頻率為150kHz到1GHz的集成電路射頻抗擾度測試）以及脈沖抗擾度標準IEC 62215。
四軸定位IC掃描儀
ICS 105 set
ICS 105型四軸定位IC掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。ICS 105 set 四軸定位IC掃描儀還可以單獨訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內(nèi)的測量，空間分辨率可達50μm。
深圳市華瑞高電子技術有限公司
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